Resistividad Superficial de Película Metálica para Red Cristalina St2643 Instrumento de Medición de Resistencia Superficial de Película Electrolítica

Celosía de Suzhou｜Unidad de Redacción de Normas Nacionales·17 años fábrica original

Como redactor de la norma nacional GB/T 40007-2021 "Medición de la resistividad de nanomateriales",

Cultivando profundamente las pruebas de conductividad de materiales17 años，servicio super5000+Comprador Senior.

Negocio principalMedidor de Resistividad de Sonda de Cuatro Puntos, Medidor de Resistividad de Polvo/Resistencia de Aislamiento/Resistividad del SueloEspera todas las series de instrumentos

Cubre la prueba de estados sólido/líquido/polvo y materiales conductores, semiconductores, aislantes y antiestáticos.

Integra I+D y fabricación, incluso una pieza tiene precio de fábrica, soporte técnico 7x24h, ¡en stock y envío gratis!

Calidad líder nacional,Sustituto importado para la elección de Li Xiang！

Parámetros técnicos

1. Rango de medición y resolución

Resistencia: 1.0×102 ～ 2.0×1014 Ω, Resolución 0.01×102 ～ 0.01×1014 Ω

Resistividad: Kv×（1.0×102 ～ 2.0×1014 ）Ω-cm, Resolución 0.01×103 ～ 0.01×1014 Ω-cm, K=1～1000, Factor de corrección.

Resistencia superficial: K□×（1.0×102 ～ 2.0×1014 ）Ω/□, Resolución 0.01×103 ～ 0.01×1014 Ω/□, K□=34.5, Factor de corrección.

2. Fuente de alimentación de trabajo:220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W

3. Dimensiones externas:An×Al×Pr=32cm×13cm×32cm

Peso neto: ≤3.5kg

4. Electrodos de tres puntas en forma de anillo y tamaño de muestra medible

El electrodo está compuesto por tres unidades independientes:

4.1 El centro es un cilindro con un diámetro de 50 mm y una altura de 40 mm.

4.2 El exterior del cilindro es un anillo. El diámetro interior del anillo es de 60 mm, el diámetro exterior es de 80 mm y la altura es de 40 mm.

4.3 La base es una placa plana, una placa circular con un diámetro de 100 mm, y el grosor es generalmente de 10 mm.

El tamaño de muestra medible es mayor a 90 mm de diámetro. El grosor es menor a 10 mm.