Probador de conductividad térmica de silicona Drl-Iii-C, Probador de resistencia térmica, Probador de conductividad térmica de plástico

110 días
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Proveedor 4.5

Cantidad

DRL-III-C

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Especificaciones del producto
Origen
Changzhou
Tipo
Silicone thermal conductivity tester
Marca
Deduyiqi
Modelo
Drl-iii-c
Rango de medición
0.01 to 50 w/m * k
Estado de la muestra medida
0.1
Error de repetibilidad
1
Dimensión total
1200
Ámbito de aplicación
Silicone thermal conductivity tester
Presupuesto
Drl-iii-c
Origen
Changzhou
Tipo
Silicone thermal conductivity tester
Marca
Deduyiqi
Modelo
Drl-iii-c
Rango de medición
0.01 to 50 w/m * k
Estado de la muestra medida
0.1
Error de repetibilidad
1
Dimensión total
1200
Ámbito de aplicación
Silicone thermal conductivity tester
Presupuesto
Drl-iii-c
Origen
Changzhou
Tipo
Silicone thermal conductivity tester
Marca
Deduyiqi
Modelo
Drl-iii-c
Rango de medición
0.01 to 50 w/m * k
Estado de la muestra medida
0.1
Error de repetibilidad
1
Dimensión total
1200
Ámbito de aplicación
Silicone thermal conductivity tester
Presupuesto
Drl-iii-c
Detalles del producto
El texto en las imágenes se puede traducir

09



Probador de Conductividad Térmica de Silicona DRL-III-C

Este instrumento evalúa principalmente la resistencia térmica de conductores térmicos delgados, materiales sólidos de aislamiento eléctrico, grasa térmica, resina, caucho, cerámica de óxido de berilio, cerámica de alúmina y otros materiales, así como la resistencia térmica de contacto en la interfaz sólida y la conductividad térmica del material. El material de prueba es escama sólida, y la adición de un marco permite probar materiales en polvo y pasta.
Estándares de referencia de instrumentos: MIL-I-49456A (láminas aislantes, resina térmicamente conductora, reforzada con fibra de vidrio térmicamente conductora); GB 5598-85 (método para determinar la conductividad térmica de la cerámica de óxido de berilio); ASTM D5470-2006 (estándar de prueba para las propiedades de transferencia térmica de materiales aislantes eléctricos sólidos delgados térmicamente conductores), estándar de la industria de placas de circuito impreso CPCA4105-2010, etc.
Características del instrumento: Con dispositivos automáticos de presurización y medición de espesor, se puede conectar a una computadora para control totalmente automático. El instrumento utiliza detección de gradiente de temperatura de 6 puntos para mejorar la precisión de la prueba. Puede detectar curvas de resistencia térmica bajo diferentes presiones, y utiliza un modelo matemático optimizado para medir múltiples parámetros como la conductividad térmica y la resistencia térmica del material, así como la resistencia térmica de contacto en la interfaz.
Se utiliza ampliamente en el análisis de conductividad térmica y pruebas de materiales en colegios y universidades, instituciones de investigación científica, departamentos de inspección de calidad y plantas de producción.



1. Tamaño de la muestra: Φ30mm
2. Espesor de la muestra: 0,02-20 mm
3、Rango de control de temperatura del hot end: Temperatura ambiente-299.99℃

4、Rango de control de temperatura del polo frío: 0-99.00℃

5. Rango de prueba de conductividad térmica: 0,01~50W/m*k, 1~300W/m*k

6. Rango de prueba de resistencia térmica: 0,05 ~ 0,000005 m²*K/W

7. Rango de medición de presión: 0~1000N

8. Rango de medición de desplazamiento: 0~30.00mm

9、Precisión de la prueba: mejor que el 3%

10. El espécimen se puede probar al vacío para garantizar el entorno y la precisión de la prueba, grado de vacío 0.1MPa (DRL-III-C no incluye vacío).

11、Métodos experimentales: a) Prueba de resistencia térmica de la muestra bajo diferentes presiones. b) Prueba de conductividad térmica del material. c) Prueba de resistencia térmica de contacto.
12. Pruebas automáticas por computadora y salida de impresión de datos.











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