
Este instrumento de medición de rugosidad superficial está especialmente diseñado paraEntorno del sitio de producciónyNecesidades de medición móvilInstrumento portátil diseñado. Adoptando diseño mecatrónico, puede medir rápidamente la rugosidad superficial de varias piezas mecanizadas (plano, superficie cilíndrica exterior, superficie cónica, agujero interior, ranura, superficie curva, etc.). El instrumento se basa en un chip ARM+DSP para procesamiento de datos de alta velocidad, ejecuta estrictamente el estándar nacional GB/T3505-2009 y es compatible con ISO, DIN, ANSI, JIS y otros estándares internacionales, adecuado para la industria de fabricación mecánica, instituciones de prueba y departamentos de inspección de mercancías.

1. Soporta múltiples parámetros: Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, Rv, R3z, R3y, Rz(JIS), Rs, Rsk, Rsm, Rku
2.rango grande de 200 μm, con una resolución de 0.002μm (rango ±20μm)
3. Cuatro tipos de filtros incorporados: RC, PC-RC, Gauss (nuevo estándar nacional), D-P
Diseño inteligente
1.320 * 240 pantalla a color de alto brillo, muestra parámetros de medición y gráficos de contorno
2. Puede almacenar100 conjuntos de datos originales, admite consulta de registros históricos
3. La visualización en tiempo real de la posición de la sonda garantiza la precisión de la medición
Portátil y duradero
1. Diseño de carcasa ergonómico, peso solo450g
2. Batería de litio incorporada,Trabajo continuo >8 horas, admite indicación de nivel de batería
3. Nivel de protección: Temperatura de funcionamiento -20℃~40℃, humedad <90%RH
Fuerte escalabilidad
1. Sensor curvo opcional (R>3mm), sensor estenopeico (Φ>2mm), sensor de ranura profunda (ancho de ranura>3mm)
2. Admite plataformas de medición, varillas de extensión y otros accesorios para adaptarse a condiciones de trabajo complejas

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nombre |
contenido |
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Rango de medición |
Eje Z (Vertical) |
200 μm |
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Rango de medición |
Eje X (horizontal) |
17.5mm(0.71pulgadas) |
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resolución |
Eje Z (Vertical) |
0,002 μm/±20 μm 0,004 μm/±40 μm 0,008 μm/±80 μm |
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proyecto |
parámetro |
Ra Rz Rq Rt Rp Rv R3z R3y Rz(JIS) Rs Rsk Rku Rsm Rmr |
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estándar |
estándar internacional ISO4287; estándar americano ANSIB46.1; estándar alemán DIN4768; estándar japonés JISB601 |
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gráficos |
curva de relación de rodamiento, rugosidad, forma de onda filtrada |
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filtrar |
filtrar |
RC, PC-RC, Gauss, DP |
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Longitud de muestreo (lr) |
0,25, 0,8, 2,5 mm |
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Duración de la evaluación(ln) |
Ln=lrXn n=1~5 |
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sensor
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Principio de medición |
Inductor diferencial de desplazamiento |
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aguja |
Diamante natural, ángulo de cono de 90 grados, radio de punta de aguja 5 μm |
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medición de fuerza |
<4 mN |
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guía |
Carburo cementado, radio de dirección de deslizamiento 40 mm |
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Velocidad de planeo |
lr=0.25,Vt=0.135mm/s |
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Velocidad de planeo |
lr=0.8, Vt=0.5mm/s |
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Velocidad de planeo |
lr=2.5, Vt=1mm/s |
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Velocidad de planeo |
Retorno Vt=1mm/s |
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Precisión de la indicación |
0,001 μm |
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Error de indicación |
±(5nm+0.1A) A:El valor estándar del parámetro Ra de la plantilla multicanal |
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Variabilidad del valor de indicación |
No más del 3% |
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Contorno residual |
no mayor que 0.01μm |
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fuente de alimentación |
Batería de litio incorporada, cargada con cargador DC5V, 2000mA |
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Dimensiones |
156 mm x 61 mm x 45 mm |
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peso |
Aproximadamente 450 g |
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entorno de trabajo |
Temperatura:-20℃~40℃ Humedad:<90%HR |
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Entorno de almacenamiento y transporte |
Temperatura:-40℃~60℃ Humedad:<90%HR |
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Accesorios opcionales |
Sensor de superficie curva, sensor de orificio pequeño, sensor de ranura profunda, varilla de extensión, varilla adaptadora, plataforma de medición de 200 mm, plataforma de medición de mármol de 300 mm |
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