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Fundamentos da cristalografia de raios X (2ª edição) Imprensa de Eletrônica e Ciência Elétrica
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Especificações do produto
Editora
Science Press
Autor
Liang Dong material
Data de publicação
2020.12
Título
Fundamentals of X-ray crystallography (2nd edition) Electronics and Electrical Science Press
Foit
16 Open
Número do livro
9787030171696
Preço do livro
158.00
Editora
Science Press
Autor
Liang Dong material
Data de publicação
2020.12
Título
Fundamentals of X-ray crystallography (2nd edition) Electronics and Electrical Science Press
Foit
16 Open
Número do livro
9787030171696
Preço do livro
158.00
Editora
Science Press
Autor
Liang Dong material
Data de publicação
2020.12
Título
Fundamentals of X-ray crystallography (2nd edition) Electronics and Electrical Science Press
Foit
16 Open
Número do livro
9787030171696
Preço do livro
158.00
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| Índice | |
| ●Nenhum |
| breve introdução | |
| Este livro usa principalmente os conceitos e métodos da geometria para analisar e derivar sistematicamente os princípios de simetria dos cristais e os princípios de difração dos cristais, dando aos leitores um conceito tridimensional claro que é fácil de entender, dominar e aplicar. O livro consiste em três partes: a primeira parte são os princípios básicos da cristalografia geométrica, a segunda parte é o princípio da simetria espacial microscópica e a terceira parte são os princípios básicos da difração de raios X em cristais. A primeira e a segunda partes usam o princípio de que a distribuição simétrica de pontos equivalentes em um sistema de pontos equivalentes de posição geral no espaço é consistente com a simetria espacial para explicar e analisar profundamente a simetria macroscópica, a simetria microscópica e as regras de combinação de simetria dos cristais e derivar sistematicamente 32 grupos de pontos e 230 combinações de simetria espacial microscópica. A terceira parte, com base na relação entre a rede cristalina e sua rede recíproca, usa o modelo matemático da rede recíproca e da esfera de reflexão e sua relação de interação para explicar em detalhes a equação de espalhamento de Laue e a equação de reflexão de Bragg, e descreve brevemente vários métodos de difração de cristal único comumente usados e importantes e a aplicação prática de instrumentos em princípio. Além disso, com base no princípio do desaparecimento do sistema de rede recíproca causado pelo vetor de translação no espaço microscópico do cristal, a lei de extinção sistemática da difração é explicada, e 120 grupos de difração são derivados. |
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